АНАЛИЗ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ СОВМЕСТИМОСТИ
МИКРОПРОЦЕССОРНЫХ УСТРОЙСТВ
РЕЛЕЙНОЙ ЗАЩИТЫ И АВТОМАТИКИ

Елена Геннадьевна Зенина
Кандидат технических наук, доцент, заведующий кафедрой энергетики,
филиал НИУ МЭИ в г. Волжском
Этот адрес электронной почты защищен от спам-ботов. У вас должен быть включен JavaScript для просмотра.
просп. Ленина, 69, 404110 г. Волжский, Российская Федерация

Аннотация. Рассмотрены основные причины отказов в работе, ложных и излишних срабатываний микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ). Выявлены основные пути решения проблемы электромагнитной совместимости (ЭМС) в электроэнергетике. Предложено решение для повышения надежности работы МУРЗ и показан путь развития проблемы ЭМС в электроэнергетике.
Ключевые слова: электромагнитная совместимость, микропроцессорные устройства, релейная защита, отказы и повреждения, реактивная мощность.

 

Лицензия Creative Commons
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.

Вложения:
Скачать этот файл (Zenina.pdf) Zenina.pdf
URL: https://ti.jvolsu.com/index.php/ru/component/attachments/download/759		127 СкачиванияОбновить этот файл (Zenina.pdf)